书 书 书犐犆犛 １３ ． ２８０ 犉 ８４ 中华人民共和国国家标准 犌犅 ／ 犜 １１６８２ — ２００８ 代替 ＧＢ ／ Ｔ１１６８２ — １９８９ 低本底 α 和 ／ 或 β 测量仪 犔狅狑犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱犪犾狆犺犪犪狀犱 ／ 狅狉犫犲狋犪犿犲犪狊狌狉犻狀犵犻狀狊狋狉狌犿犲狀狋狊 ２００８  ０７  ０２ 发布 ２００９  ０４  ０１ 实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 发布书 书 书前 　　 言 　　 本标准代替 ＧＢ ／ Ｔ１１６８２ — １９８９ 《 低本底 α 测量仪 》。 本标准与 ＧＢ ／ Ｔ１１６８２ — １９８９ 相比作了如下修改 ： ——— 标准名称修改为 《 低本底 α 和 ／ 或 β 测量仪 》； ——— 增加了测量低本底 β 的内容 ； ———“ 规范性引用文件 ” 中增加了引用的标准 ； ———“ 术语和定义 ” 中增加了 “ 串道比 ” 的内容 ； ——— 增加 α 与 β 的相互干扰指标 ， 即串道比指标 ； ——— 增加了仪器电磁兼容的要求和试验方法 ； ——— 增加了对仪器软件的通用要求 ； ——— 删除了 “ 表 １ 　 仪器分级 ” 中本底稳定性的技术指标 ； ——— 删除了 “ 表 ２ 　 改变影响量的项目和要求 ” 中变化限值和本底计数率的技术要求 。 本标准的附录 Ａ 为规范性附录 。 本标准由中国核工业集团公司提出 。 本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会 （ ＳＡＣ ／ ＴＣ３０ ） 归口 。 本标准起草单位 ： 中核 （ 北京 ） 核仪器厂 。 本标准主要起草人 ： 杨彬华 、 文建生 、 吴炳麟 。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为 ： ——— ＧＢ ／ Ｔ１１６８２ — １９８９ 。 Ⅰ 犌犅 ／ 犜 １１６８２ — ２００８ 低本底 α 和 ／ 或 β 测量仪 １ 　 范围 本标准规定了低本底 α 和 ／ 或 β 测量仪的技术要求 、 试验方法和检验规则 。 本标准适用于测量弱 α 、 β 放射性活度或表面发射率的仪器 ， 也适用于多用途仪器中的测量弱 α 或 β 放射性的部分 。 本标准不适用于测量 α 或 β 能谱类型的仪器 。 ２ 　 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款 。 凡是注日期的引用文件 ， 其随后所有 的修改单 （ 不包括勘误的内容 ） 或修订版均不适用于本标准 ， 然而 ， 鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本 。 凡是不注日期的引用文件 ， 其最新版本适用于本标准 。 ＧＢ ／ Ｔ４０７８ 　 放射性测量用样品托盘 、 瓶子和试管的尺寸 ＧＢ ／ Ｔ８９９３ — １９９８ 　 核仪器环境条件与试验方法 ＧＢ ／ Ｔ１０２５７ — ２００１ 　 核仪器和核辐射探测器质量检验规则 ＧＢ ／ Ｔ１７７９９．１ — １９９９ 　 电磁兼容 　 通用标准 　 居住 、 商业和轻工业环境中的抗扰度试验 ＧＢ ／ Ｔ１９６６１．１ — ２００５ 　 核仪器及系统安全要求 　 第 １ 部分 ： 通用要求 ＧＢ ／ Ｔ１９６６１．２ 　 核仪器及系统安全要求 　 第 ２ 部分 ： 放射性防护要求 ３ 　 术语和定义 下列术语和定义适用于本标准 。 ３ ． １ 　 本底 　 犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱 非起因于待测物理量的信号 。 ３ ． ２ 　 仪器本底 　 犻狀狊狋狉狌犿犲狀狋犪犾犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱 仪器在正常工作条件下 ， 样品盘中无放射源时 ， 仪器的指示值 。 ３ ． ３ 　 空白样品 　 犫犾犪狀犽狊犪犿狆犾犲 由无外加放射性但与样品相同的物质 ， 按正常程序制作的待测平面样品 。 ３ ． ４ 　 空白样品本底 　 犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱狅犳犫犾犪狀犽狊犪犿狆犾犲 仪器在正常工作条件下 ， 测量空白样品的指示值 。 ３ ． ５ 　 本底计数 　 犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱犮狅狌狀狋 在没有被测样品存在的条件下 ， 测量装置的固有计数 。 这些计数来自宇宙射线 、 周围环境中的放射 性物质和探测器本身的放射性污染等 。 ３ ． ６ 　 本底计数率 　 犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱犮狅狌狀狋狉犪狋犲 单位时间内的本底计数 。 １ 犌犅 ／ 犜 １１６８２ — ２００８ ３ ． ７ 　 （ 放射性 ） 活度 　 犪犮狋犻狏犻狋狔 在给定时刻 ， 处于特定能态的一定量的某种放射性核素的活度 犃 是 ｄ 犖 除以 ｄ 狋 而得的商 ： 犃 ＝ ｄ 犖 ／ ｄ 狋 　　 式中 ： ｄ 犖 ——— 在该时间间隔 ｄ 狋 内 ， 该核素从该能态发生自发核跃迁数的期望值 。 ３ ． ８ 　 表面发射率 　 狊狌狉犳犪犮犲犲犿犻狊狊犻狅狀狉犪狋犲 对于一个给定的放射源 ， 在单位时间内由该表面发射出给定类型的粒子数 。 ３ ． ９ 　 低本底 α 和 ／ 或 β 测量仪 　 犾狅狑犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱犪犾狆犺犪犪狀犱 ／ 狅狉犫犲狋犪犿犲犪狊狌狉犻狀犵犻狀狊狋狉狌犿犲狀狋狊 测量弱 α 、 β 放射性活度或表面发射率的仪器 。 ３ ． １０ 　 探测效率 　 犱犲狋犲犮狋犻狅狀犲犳犳犻犮犻犲狀犮狔 在一定的探测条件下 ， 探测器测得的粒子数与在同一时间间隔内辐射源发射的该种粒子数的比值 。 ３ ． １１ 　 几何因子 　 犵犲狅犿犲狉狋狔犳犪犮狋狅狉 探测效率在一定几何条件下的极限值 ， 它可由探测器灵敏面与放射源之间的几何关系计算出来 。 ３ ． １２ 　 效率比 　 犲犳犳犻犮犻犲狀犮狔狉犪狋犻狅 探测效率测量值与几何因子之比 ， 即除几何因子以外其他决定探测效率的各种因素之积 。 ３ ． １３ 　 串道比 　 犻狀狋犲狉犳犲狉犲狉犪狋犻狅 仪器测量单一 α 或 β 参考源时 ， 在 β 道或 α 道的计数与 α 道和 β 道总计数的之比 。 ３ ． １４ 　 干扰辐射 　 犻狀狋犲狉犳犲狉犲狀犮犲狉犪犱犻犪狋犻狅狀 仪器预定测量辐射以外的其他辐射 。 ３ ． １５ 　 探测器窗 　 狑犻狀犱狅狑狅犳犪犱犲狋犲犮狋狅狉 探测器中使待测辐射易于穿透的部位 。 ３ ． １６ 　 探测器灵敏面积 　 狊犲狀狊犻狋犻狏犲狊狌狉犳犪犮犲狅犳犪犱犲狋犲犮狋狅狉 探测器中对辐射灵敏并用于探测的那部分面积 。 ４ 　 技术要求 ４ ． １ 　 一般要求 低本底 α 和 ／ 或 β 测量仪的基本组成包括探测部件和屏蔽体 、 测量和数据处理单元 、 电源等部件 ， 这 些部件可组装成一个整体 ， 也可分成几个部分用电缆连接 。 ４ ． １ ． １ 　 探测部件和屏蔽体 探测部件由一个或多个探测器以及有关电路组成 ， 其设计应满足如下要求 ： ——— 探测器在工作时 ， 探测器窗与待测样品表面之间的距离一般应小于 １０ｍｍ ； ——— 设计探测器时 ， 应考虑尽量不受其他电离辐射的影响 ； ——— 探测器所用的屏蔽体应注意材料的选用 ， 其结构应易于拆装 、 搬运 。 ２ 犌犅 ／ 犜 １１６８２ — ２００８ 制造厂应说明探测器的类型和灵敏面积的尺寸 。 如果使用反符合探测器 ， 还应给出反符合探测器 的类型 、 尺寸等 。 探测器工作时如需要供给工作气体时 ， 制造厂应说明所用的气体成分 、 纯度和供气流量值等 。 探测部件的结构应易于去污 。 样品盘应符合 ＧＢ ／ Ｔ４０７８ 的有关规定 。 ４ ． １ ． ２ 　 测量和数据处理单元 仪器的指示值可用预定时间的计数表示 ， 也可用预定计数的时间表示 。 定时装置的最长预定时间 应不小于 ２４ｈ ， 并可分成若干档 。 定数装置的最大预定计数容量应不小于 １０００ ， 也可分为若干档 。 时 间的准确度应达到 ０．１％ 。 仪器应有自检 、 数据储存 、 历史数据查询 、 报表打印 、 数据传输等功能 。 仪器应尽可能降低外界干扰的影响 。 ４ ． １ ． ３ 　 电源 仪器可用交流或直流供电 。 交流供电 ： 电源应为 ２２０Ｖ ， ５０Ｈｚ ， 并应设有停电指示 ， 也可附加防止数据丢失的措施 。 直流供电 ： 由一次电池或二次电池供电 ， 其有效使用期应不小于 ２５０ｈ ， 具体时间由制造厂给出 。 在电池有效使用期间 ， 仪器性能应满足本标准规定的技术要求 。 仪器应具有更换电池的明显警戒标记 。 仪器上应清楚地标出电池安装的正 、 负极性 。 ４ ． ２ 　 放射源 ４ ． ２ ． １ 　 参考源 参考源应经国家计量部门认可的校准装置进行测量 ， 其不确定度应不大于 ５％ 。 对于 α 测量 ， 推荐使用 ２４１ Ａｍ 、 ２３９ Ｐｕ 等作为参考源 。 对于 β 测量 ， 推荐使用 ９０ Ｓｒ ／ ９０ Ｙ 、 ２０４ Ｔｌ 、 １４ Ｃ 等作为参考源 。 当仪器用于测量最大能量小于 ２５０ｋｅＶ 的 β 粒子时 ， 应选用 １４ Ｃ 作为参考源 （ 使用流气式正比计数 管的仪器对 １４ Ｃ 的 β 效率应不小于 ４０％ ）。 ４ ． ２ ． ２ 　 检查源 检查源仅用于检查仪器是否正常工作和稳定性 ， 可选用长寿命的 α 或 β 放射源 。 为了使测量准确 ， 制造厂应给出仪器在测量时的几何参数 ， 特别是所用参考源或检查源的尺寸 。 ４ ． ３ 　 仪器分级 低本底 α 和 ／ 或 β 测量仪的本底计数率 、 效率比 、 效率稳定性和串道比是仪器的四个主要指标 ， 根据 这四项指标将仪器分为 Ⅰ 、 Ⅱ 、 Ⅲ 级 ， 见表 １ 。 仪器应同时满足表中所列的各级四项指标的规定 ， 如果仪 器的某项指标不满足某一分级中的要求 ， 则应认为归属下一级